原裝正品德國EPK MiniTest1100/2100/3100/4100探頭 摘要:探頭量程低端分辨率容差1小曲率半徑(凸/凹)小測量面積小基體厚度尺寸主機可選: MiniTest 1100涂層測厚儀主機 MiniTest 2100涂層測厚儀主機 MiniTest 3100涂層測厚儀主機 MiniTest 4100涂層測厚儀主機 所有主機具有以下技術(shù)特點: ·可配接所有測頭 ·可通過RS-232接口連接微型數(shù)據(jù)打印機MiniPrint和PC ·可使用1片或2片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn) 探頭可選: ·F型測頭:應(yīng)用磁感應(yīng)原理,測量鋼鐵基體上的非磁性覆層,稱作磁性測頭。 ·N型測頭:應(yīng)用電渦流原理,測量有色金屬基體上的絕緣覆層,稱作非磁性測頭。 ·FN型兩用測頭:同時具備F型和N型測頭的功能。 測頭F05——磁性測頭, 適用于測量鋼鐵上的薄涂層,0...500μm 測頭F3——磁性測頭, 適用于測量鋼鐵上較厚涂層, 0...3000μm 測頭F1.6——磁性測頭,量程低端分辨率很高(0.1μm),0...1600μm 測頭F1.6P——磁性測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度, 0...1600μm 測頭F1.6/90——90°磁性測頭 特別適合在管內(nèi)壁測量,0...1600μm 測頭F10——磁性測頭, 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,0...10mm 測頭F20——磁性測頭, 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,0...20mm 測頭F50——磁性測頭, 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,0...50mm 測頭FN1.6 ——兩用測頭,可測量鋼鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層, 0...1600μm 測頭FN1.6P——兩用測頭,特別適合測粉末狀的覆層厚度,0...1600μm 測頭FN1.6/90 ——90°兩用測頭,特別適合在管內(nèi)壁測量,0...1600μm 測頭N02——非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層,0...200μm 測頭N08Cr——適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鉻鍍層,0...80μm 測頭N02 Tu——適用于測量鋁箔或薄鋁壁管上薄涂層,0...200μm 測頭N1.6——非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層,0...1600μm 測頭N1.6/90——90°非磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層,尤其適合在管內(nèi)壁測量,0...1600μm 測頭N10——非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,0...10mm 測頭N20——非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,0...20mm 測頭N100——非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較厚的絕緣覆層,0...100mm 測頭CN02——用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板,10...200μm 測頭F2(250°C)——磁性測頭,短時工作溫度可達到250°C, 0...2000μm 測頭F2(350°C)——磁性測頭,短時工作溫度可達到350°C,0...2000μm 測頭F2/90——90°磁性測頭,特別適合在管內(nèi)壁測量,0...2000μm 測頭N2/90——90°非磁性測頭,特別適合在管內(nèi)壁測量,0...2000μm 測頭FN 2/90——90°兩用測頭,特別適合在管內(nèi)壁測量,0...2000μm 配件可選: MiniPrint 4100專用打印機 RS-232專用接口線纜 MSoft41數(shù)據(jù)分析軟件 測頭N02Tu的專用支架 測量小工件和薄覆層的精密測量支架
超聲波測厚儀用高溫耦合劑ZGM 超聲波測厚儀用高溫耦合劑SONO1100 超聲波測厚儀用高溫耦合劑SONO950 超聲波測厚儀用高溫耦合劑SONO600 超聲波測厚儀用高溫耦合劑SONO900 精密超聲波測厚儀minitest400A 鐵基非鐵基(兩用)涂層測厚儀BK8115 槍型涂層測厚儀BK8113膜厚計 槍型涂層測厚儀BK8113A Quintsonic用2包充電電池 EPK高壓控頭P35 EPK高壓控頭P7 EPK高壓控頭P30 德國EPK PoroTest7電池 德國EPK濕膜輪測厚儀PhysiTest15203 德國EPK濕膜輪測厚儀PhysiTest15201 德國EPK濕膜輪測厚儀PhysiTest15202 EPK公司精密超聲波測厚儀minitest400B 雙旭上海雙旭電子有限公司聯(lián)系電話:021-63515607 63515605 63515606 63504668 63510721 63510720 網(wǎng)站: www.63504668.com |